電鍍層測厚儀不僅能提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析

更新時間：2023-06-26

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電鍍測厚儀不僅能提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。

　　電鍍層測厚儀采用磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。

　　如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。

　　近年來的電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設(shè)計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達一個數(shù)量級）。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。

　　電鍍層測厚儀鍍層厚度的測量方法(標準曲線法)

　　標準曲線法

　　首先經(jīng)X射線照射后，鍍層和底材都會各自產(chǎn)生熒光X射線，我們必須對這兩種熒光X射線能夠辨別，方能進行鍍層厚度的測量。也就是說，鍍層和底材所含有的元素必需是不*相同的。這是測量鍍層厚度的先決條件。

　　對某種金屬鍍層樣品進行測量時，基于鍍層厚度、狀態(tài)的不同，所產(chǎn)生的熒光X射線的強度也不一樣。

　　鍍層厚度測量時，可采用兩種不同方法，一種是注重鍍層中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強度，稱為激發(fā)法。另一種是注重底材中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強度，稱為吸收法。這兩種方法的應(yīng)用必需根據(jù)鍍層和底材的不同組合來區(qū)分使用。

　　鍍層厚度測量時，測量已知厚度的標準樣品而得到其厚度及產(chǎn)生的熒光X射線強度之間的關(guān)系，并做出標準曲線。然后再測量未知樣品的熒光X射線強度，得到其鍍層厚度。但是需注意的是，熒光X射線法是從得到的熒光X射線的強度來求得單位面積的元素附著量，再除以元素的密度來算出其厚度。所以，對于含有雜質(zhì)或多孔質(zhì)蒸鍍層等與純物質(zhì)不同密度的樣品，需要進行修正。

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